內(nèi)容簡介:

　　《電子測量原理與應(yīng)用（下冊）/普通高等教育“十二五”電子信息類規(guī)劃教材》采用了全新的體系結(jié)構(gòu)，根據(jù)電子信息技術(shù)研究的基本對象——信號和系統(tǒng)，把電子測量的基本內(nèi)容劃分為“信號的測量”和“系統(tǒng)的測量”兩大部分。本書分為上、下兩冊。上冊包含了電子測量總論、測量誤差理論和信號的測量，講述電子測量的基本原理和測量誤差理論；討論了信號的時間與頻率、信號的幅度（電壓、電流和功率）、信號的波形（時域特性）、信號的頻譜（頻域特性）和數(shù)字信號等的測量。下冊包含了系統(tǒng)的測量，主要討論了測量系統(tǒng)的基本特性、系統(tǒng)測量用的信號源、元器件特性參數(shù)、集成電路、線性系統(tǒng)特性及網(wǎng)絡(luò)分析等的測量。

目錄:前言
第3篇  系統(tǒng)的測量
第8章  測量系統(tǒng)的基本特性
8.1  概述
8.1.1  測量系統(tǒng)的定義
8.1.2  測量系統(tǒng)的響應(yīng)特性
8.2  測量系統(tǒng)的靜態(tài)特性
8.2.1  靜態(tài)特性的表征和獲取
8.2.2  靜態(tài)特性的基本參數(shù)
8.2.3  靜態(tài)特性的質(zhì)量指標
8.3  電子測量儀器的技術(shù)規(guī)范及誤差的表示方法
8.3.1  技術(shù)規(guī)范
8.3.2  工作特性及儀器誤差
8.4  測試系統(tǒng)的動態(tài)特性
8.4.1  動態(tài)特性概述
8.4.2  描述測量系統(tǒng)動態(tài)特性的數(shù)學(xué)模型
8.4.3  測量系統(tǒng)的動態(tài)特性參數(shù)
8.4.4  測量系統(tǒng)動態(tài)特性的評價指標及其測量
本章小結(jié)
思考與練習(xí)
第9章  信號源
9.1  概述
9.1.1  信號源在系統(tǒng)測量中的作用
9.1.2  信號源的分類
9.1.3  主要技術(shù)指標
9.2  傳統(tǒng)的信號源
9.2.1  低頻信號源
9.2.2  高頻信號源
9.2.3  脈沖信號源
9.2.4  函數(shù)信號源
9.2.5  掃頻信號源
9.3  鎖相頻率合成信號源
9.3.1  合成信號源概述及直接合成原理
9.3.2  鎖相環(huán)的基本形式及鎖相頻率合成的原理
9.3.3  提高頻率分辨力的鎖相合成技術(shù)
9.3.4  擴展輸出頻率上限的鎖相技術(shù)
9.3.5  鎖相合成信號源的實例分析
9.4  直接數(shù)字合成（DDS）信號源
9.4.1  DDS信號源的基本組成原理
9.4.2  DDS的單片集成電路
9.4.3  DDS的技術(shù)指標及特點
9.4.4  DDS+PLL頻率合成信號源
9.4.5  任意波形信號源
9.4.6  合成掃頻信號源
本章小結(jié)
思考與練習(xí)
第10章  電子元器件的測量
10.1  概述
10.1.1  電子元器件的分類
10.1.2  電子元器件測量的特點
10.2  無源元件的阻抗測量
10.2.1  無源元件R、L、C的阻抗概述
10.2.2  電橋法
10.2.3  諧振法
10.2.4  電壓電流法
10.2.5  自動平衡電橋
10.3  分立器件參數(shù)的測試內(nèi)容
10.4  分立器件參數(shù)的測量方法
10.4.1  電壓參數(shù)的測量
10.4.2  電流參數(shù)的測量
10.4.3  放大倍數(shù)的測量
10.4.4  阻抗參數(shù)的測量
10.5  分立器件測試儀器
10.5.1  晶體管特性圖示儀
10.5.2  分立器件綜合測試儀
本章小結(jié)
思考與練習(xí)
第11章  集成電路測試
11.1  概述
11.1.1  集成電路測試的意義
11.1.2  集成電路測試的基本原理
11.1.3  集成電路測試的分類
11.1.4  測試的主要環(huán)節(jié)
11.1.5  集成電路測試系統(tǒng)
11.2  數(shù)字集成電路測試技術(shù)
11.2.1  概述
11.2.2  數(shù)字集成電路的參數(shù)測試
11.2.3  功能測試
11.3  模擬集成電路測試技術(shù)
11.3.1  概述
11.3.2  模擬集成電路的測試系統(tǒng)
11.3.3  線性集成運算放大器的測試
11.4  精密測量單元PMU
11.4.1  PMU的特點
11.4.2  PMU的組成原理
11.4.3  PMU的技術(shù)指標
11.4.4  PMU的應(yīng)用實例
11.5  混合集成電路測試
11.5.1  對混合信號集成電路的測試要求和系統(tǒng)結(jié)構(gòu)
11.5.2  ADC、DAC測試技術(shù)簡介
11.5.3  DAC測試技術(shù)
本章小結(jié)
思考與練習(xí)
第12章  線性系統(tǒng)特性測量和
網(wǎng)絡(luò)分析
12.1  線性系統(tǒng)的頻率特性測量
12.1.1  線性系統(tǒng)的頻率特性測量概述
12.1.2  幅頻特性測量
12.1.3  相頻特性測量
12.1.4  矢量電壓測量
12.1.5  掃頻儀
12.2  網(wǎng)絡(luò)分析概述
12.2.1  網(wǎng)絡(luò)分析的基本概念
12.2.2  微波的S參數(shù)
12.3  網(wǎng)絡(luò)測量原理
12.3.1  網(wǎng)絡(luò)分析儀的基本原理
12.3.2  矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀
12.3.3  網(wǎng)絡(luò)分析儀的誤差來源
12.3.4  網(wǎng)絡(luò)分析儀的誤差校準和修正
12.4  網(wǎng)絡(luò)測量新技術(shù)簡介
12.4.1  調(diào)制矢量網(wǎng)絡(luò)分析技術(shù)
12.4.2  非線性矢量網(wǎng)絡(luò)分析技術(shù)
12.4.3  多端口矢量網(wǎng)絡(luò)分析技術(shù)
12.5  線性系統(tǒng)的時域特性測量
12.5.1  線性系統(tǒng)時域特性概述
12.5.2  時域特性測量的實現(xiàn)
本章小結(jié)
思考與練習(xí)
部分習(xí)題參考答案
參考文獻