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2019-10-15 17:23 來源：京東作者：京東

高等學(xué)校“十二五”規(guī)劃教材·工科基礎(chǔ)化學(xué)系列：固體材料常用表征技術(shù)

編輯推薦:

內(nèi)容簡介: 《固體材料常用表征技術(shù)》共分13章，分別介紹X射線光電子能譜分析技術(shù)，X射線粉末衍射分析技術(shù)，俄歇電子能譜分析技術(shù)，X射線吸收精細結(jié)構(gòu)分析技術(shù)，固體材料的質(zhì)譜分析技術(shù)，電子顯微鏡分析技術(shù)，電子探針X射線顯微分析技術(shù)，核磁共振波譜分析技術(shù)，電子順磁共振譜分析技術(shù)，衍射散射式激光粒度分析技術(shù)，氮氣吸附分析技術(shù)，正電子湮沒分析技術(shù)，電化學(xué)阻抗譜分析技術(shù)。
《固體材料常用表征技術(shù)》既可可作為高等院?；瘜W(xué)化工、材料、物理等專業(yè)的研究生教材和高年級本科生教材，也可作為相關(guān)領(lǐng)域的科研人員和工程技術(shù)人員的參考書。

作者簡介:

目錄:第1章 X射線光電子能譜分析技術(shù)
1.1 引言
1.2 儀器構(gòu)造與樣品制備
1.2.1 X射線源
1.2.2 超高真空系統(tǒng)（IJHV）
1.2.3 分析器與數(shù)據(jù)系統(tǒng)
1.2.4 其他附件
1.2.5 靈敏度和檢測限
1.2.6 清潔表面制備
1.3 基本原理
1.3.1 XPS的物理基礎(chǔ)
1.3.2 XPS譜的結(jié)合能參照基準
1.3.3 結(jié)合能化學(xué)位移
1.4 XPS在化學(xué)上的應(yīng)用及實例解析
1.4.1 定性分析
1.4.2 定量分析
1.5 新技術(shù)
1.5.1 單色化XPS（Mono XPS）和小面積XPS（SAXPS）
1.5.2 SAXPS深度剖析
1.5.3 成像XPS（iXPS）
1.5.4 XPS線掃描分析
本章小結(jié)
參考文獻

第2章 X射線粉末衍射分析技術(shù)
2.1 引言
2.2 X射線粉末衍射儀
2.2.1 基本構(gòu)造
2.2.2 工作原理
2.2.3 試樣制備
2.2.4 應(yīng)用及圖例解析
本章小結(jié)
參考文獻

第3章俄歇電子能譜分析技術(shù)
3.1 引言
3.2 俄歇表面分析技術(shù)的基本理論
3.2.1 俄歇過程和俄歇電子
3.2.2 俄歇電子能量與特征譜線的關(guān)系
3.2.3 俄歇電子的強度
3.2.4 化學(xué)效應(yīng)
3.3 儀器結(jié)構(gòu)
3.3.1 樣品室
3.3.2 電子槍
3.3.3 氬離子槍
3.3.4 電子能量分析器
3.3.5 檢測器
3.3.6 真空系統(tǒng)
3.3.7 俄歇電子能譜儀的分辨率和靈敏度
3.4 實驗技術(shù)
3.4.1 樣品的制備技術(shù)
3.4.2 離子束濺射技術(shù)
3.4.3 樣品的荷電問題
3.4.4 俄歇電子能譜的采樣深度
3.5 俄歇電子能譜圖的分析技術(shù)
3.5.1 表面元素定性鑒定
3.5.2 表面元素的半定量分析
3.5.3 表面元素的化學(xué)價態(tài)分析
3.5.4 深度分析
3.5.5 微區(qū)分析
3.6 俄歇電子能譜的應(yīng)用
3.6.1 表面檢查和污染分析
3.6.2 在金屬、半導(dǎo)體方面的應(yīng)用
3.6.3 吸附和催化方面的應(yīng)用
3.6.4 在薄膜、厚膜、多層膜方面的應(yīng)用
3.6.5 俄歇電子能譜的功能擴展
本章小結(jié)
參考文獻

第4章 X射線吸收精細結(jié)構(gòu)分析技術(shù)
4.1 引言

……
第5章固體材料的質(zhì)譜分析技術(shù)
第6章電子顯微鏡分析技術(shù)
第7章電子探針X射線顯微分析技術(shù)
第8章核磁共振波譜分析技術(shù)

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