X射線熒光光譜分析簡介，目錄書摘
2020-06-24 15:21
來源：京東
作者：京東
X射線熒光光譜分析
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內(nèi)容簡介: 吉昂等編著的這本《X射線熒光光譜分析》為《中國科學院研究生教學叢書》之一。
《X射線熒光光譜分析》系統(tǒng)地介紹了X射線熒光光譜分析的理論、測試技術(shù)和實際應(yīng)用，以及近年來的重要進展。書中重點論述了波長色散和能量色散X射線熒光光譜所涉及的基本理論和實驗技術(shù)、理論強度計算公式、基體校正、樣品制備、定量分析和光譜儀結(jié)構(gòu)性能等內(nèi)容。此外，《X射線熒光光譜分析》還對近年來提出的半定量分析、薄膜和鍍層分析、不確定度評定、化學計量學研究在X射線熒光光譜分析中的應(yīng)用及普通波長色散X射線熒光光譜儀在化學態(tài)分析中的應(yīng)用等領(lǐng)域作了專門論述。
《X射線熒光光譜分析》概念清晰、圖文并茂、結(jié)合實際，既可作為綜合性大學及理工科院?；瘜W及化學工程專業(yè)學生和教師的教學用書，也可供從事X射線熒光光譜分析的工作者和科學研究人員參考。
《X射線熒光光譜分析》系統(tǒng)地介紹了X射線熒光光譜分析的理論、測試技術(shù)和實際應(yīng)用，以及近年來的重要進展。書中重點論述了波長色散和能量色散X射線熒光光譜所涉及的基本理論和實驗技術(shù)、理論強度計算公式、基體校正、樣品制備、定量分析和光譜儀結(jié)構(gòu)性能等內(nèi)容。此外，《X射線熒光光譜分析》還對近年來提出的半定量分析、薄膜和鍍層分析、不確定度評定、化學計量學研究在X射線熒光光譜分析中的應(yīng)用及普通波長色散X射線熒光光譜儀在化學態(tài)分析中的應(yīng)用等領(lǐng)域作了專門論述。
《X射線熒光光譜分析》概念清晰、圖文并茂、結(jié)合實際，既可作為綜合性大學及理工科院?；瘜W及化學工程專業(yè)學生和教師的教學用書，也可供從事X射線熒光光譜分析的工作者和科學研究人員參考。
目錄:前言
緒論
第一篇 X射線熒光光譜基本原理
第一章 X射線物理學基礎(chǔ)
§1．1 X射線的本質(zhì)和定義
§1．2 X射線光譜
§1．3 莫塞萊定律
§1．4 X射線與物質(zhì)的相互作用
§1．5 布拉格定律
§1．6 俄歇效應(yīng)和熒光產(chǎn)額
§1．7 譜線分數(shù)
參考文獻
第二章 X射線熒光強度的理論計算
§2．1 概述
§2．2 激發(fā)因子
§2．3 X光管原級譜的強度分布和譜儀的幾何因子
§2．4 一次（原級）熒光強度的計算
§2．5 二次（次級）熒光強度的計算
§2．6 三次（第三級）熒光強度的計算
§2．7 X射線熒光相對強度理論計算的小結(jié)
參考文獻
第二篇 X射線熒光光譜儀的結(jié)構(gòu)和性能
第三章 激發(fā)源和探測器
§3．1 概述
§3．2 激發(fā)源
§3．3 探測器
參考文獻
第四章 波長色散X射線熒光光譜儀的結(jié)構(gòu)和性能
§4．1 概述
§4．2 光源
§4．3 原級譜濾光片
§4．4 通道面罩和準直器
§4．5 分光晶體
§4．6 探測器
§4．7 測角儀
§4．8 脈沖高度分析器
§4．9 系統(tǒng)軟件
§4．10 波長色散X射線熒光光譜儀的性能測試方法
參考文獻
第五章 能量色散和全反射X射線熒光光譜儀
§5．1 能量色散X射線熒光光譜儀
§5．2 譜峰位和譜強度數(shù)據(jù)的提取
§5．3 基體校正
§5．4 全反射X射線熒光光譜儀
參考文獻
第三篇 X射線熒光光譜定性和定量分析
第六章 基本參數(shù)法和影響系數(shù)法
§6．1 概述
§6．2 元素間吸收增強效應(yīng)
§6．3 基本參數(shù)法
§6．4 理論影響系數(shù)法
§6．5 基本參數(shù)法和理論影響系數(shù)法的應(yīng)用
§6．6 經(jīng)驗系數(shù)法
參考文獻
第七章 實驗校正法
§7．1 校正曲線法
§7．2 內(nèi)標法
§7．3 標準加入法和標準稀釋法
參考文獻
第八章 定性和半定量分析
§8．1 概述
§8．2 定性分析
§8．3 半定量分析
參考文獻
第九章 定量分析
§9．1 概述
§9．2 波長色散譜儀定量分析條件的選擇
§9．3 能量色散譜儀定量分析條件的選擇
§9．4 校正曲線的制定
§9．5 定量分析方法簡介
§9．6 定量分析方法的準確度評價
§9．7 儀器漂移的校正
參考文獻
第十章 薄膜和多層膜分析
§10．1 薄試樣和厚試樣
§10．2 單層和多層膜的熒光強度計算
§10．3 非無限厚試樣的定量分析
參考文獻
第四篇 樣品制備和不確定度評定
第十一章 樣品制備
§11．1 基本概念
§11．2 樣品的預加工
§11．3 固體樣品的制備方法
§11．4 液體樣品的制備方法
§11．5 富集技術(shù)在樣品制備中的應(yīng)用
參考文獻
第十二章 不確定度評定
§12．1 基礎(chǔ)知識
§12．2 不確定度的評定
§12．3 X射線熒光光譜定量分析中的不確定度來源
§12．4 結(jié)語
參考文獻
第五篇 化學計量學和化學態(tài)分析
第十三章 化學計量學研究在X射線熒光分析中的應(yīng)用
§13．1 概述
§13．2 基體校正方程與化學計量學之間的關(guān)系
§13．3 偏最小二乘法
§13．4 因子分析
§13．5 模式識別
§13．6 神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)
§13．7 知識工程
參考文獻
第十四章 波長色散X射線熒光光譜儀在化學態(tài)分析中的應(yīng)用
§14．1 概述
§14．2 高分辨率X射線熒光光譜儀
§14．3 普通波長色散X射線熒光光譜儀分辨率的測定及改善
§14．4 譜處理方法
§14．5 X射線熒光光譜儀在化學態(tài)分析中的應(yīng)用
參考文獻
附錄
附錄1 吸收限波長和臨界激發(fā)能量
附錄2 特征X射線波長和能量
附錄3 輻射躍遷幾率
附錄4 K系伴線波長(A)
附錄5 熒光產(chǎn)額和Coster-Kronig躍遷幾率
緒論
第一篇 X射線熒光光譜基本原理
第一章 X射線物理學基礎(chǔ)
§1．1 X射線的本質(zhì)和定義
§1．2 X射線光譜
§1．3 莫塞萊定律
§1．4 X射線與物質(zhì)的相互作用
§1．5 布拉格定律
§1．6 俄歇效應(yīng)和熒光產(chǎn)額
§1．7 譜線分數(shù)
參考文獻
第二章 X射線熒光強度的理論計算
§2．1 概述
§2．2 激發(fā)因子
§2．3 X光管原級譜的強度分布和譜儀的幾何因子
§2．4 一次（原級）熒光強度的計算
§2．5 二次（次級）熒光強度的計算
§2．6 三次（第三級）熒光強度的計算
§2．7 X射線熒光相對強度理論計算的小結(jié)
參考文獻
第二篇 X射線熒光光譜儀的結(jié)構(gòu)和性能
第三章 激發(fā)源和探測器
§3．1 概述
§3．2 激發(fā)源
§3．3 探測器
參考文獻
第四章 波長色散X射線熒光光譜儀的結(jié)構(gòu)和性能
§4．1 概述
§4．2 光源
§4．3 原級譜濾光片
§4．4 通道面罩和準直器
§4．5 分光晶體
§4．6 探測器
§4．7 測角儀
§4．8 脈沖高度分析器
§4．9 系統(tǒng)軟件
§4．10 波長色散X射線熒光光譜儀的性能測試方法
參考文獻
第五章 能量色散和全反射X射線熒光光譜儀
§5．1 能量色散X射線熒光光譜儀
§5．2 譜峰位和譜強度數(shù)據(jù)的提取
§5．3 基體校正
§5．4 全反射X射線熒光光譜儀
參考文獻
第三篇 X射線熒光光譜定性和定量分析
第六章 基本參數(shù)法和影響系數(shù)法
§6．1 概述
§6．2 元素間吸收增強效應(yīng)
§6．3 基本參數(shù)法
§6．4 理論影響系數(shù)法
§6．5 基本參數(shù)法和理論影響系數(shù)法的應(yīng)用
§6．6 經(jīng)驗系數(shù)法
參考文獻
第七章 實驗校正法
§7．1 校正曲線法
§7．2 內(nèi)標法
§7．3 標準加入法和標準稀釋法
參考文獻
第八章 定性和半定量分析
§8．1 概述
§8．2 定性分析
§8．3 半定量分析
參考文獻
第九章 定量分析
§9．1 概述
§9．2 波長色散譜儀定量分析條件的選擇
§9．3 能量色散譜儀定量分析條件的選擇
§9．4 校正曲線的制定
§9．5 定量分析方法簡介
§9．6 定量分析方法的準確度評價
§9．7 儀器漂移的校正
參考文獻
第十章 薄膜和多層膜分析
§10．1 薄試樣和厚試樣
§10．2 單層和多層膜的熒光強度計算
§10．3 非無限厚試樣的定量分析
參考文獻
第四篇 樣品制備和不確定度評定
第十一章 樣品制備
§11．1 基本概念
§11．2 樣品的預加工
§11．3 固體樣品的制備方法
§11．4 液體樣品的制備方法
§11．5 富集技術(shù)在樣品制備中的應(yīng)用
參考文獻
第十二章 不確定度評定
§12．1 基礎(chǔ)知識
§12．2 不確定度的評定
§12．3 X射線熒光光譜定量分析中的不確定度來源
§12．4 結(jié)語
參考文獻
第五篇 化學計量學和化學態(tài)分析
第十三章 化學計量學研究在X射線熒光分析中的應(yīng)用
§13．1 概述
§13．2 基體校正方程與化學計量學之間的關(guān)系
§13．3 偏最小二乘法
§13．4 因子分析
§13．5 模式識別
§13．6 神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)
§13．7 知識工程
參考文獻
第十四章 波長色散X射線熒光光譜儀在化學態(tài)分析中的應(yīng)用
§14．1 概述
§14．2 高分辨率X射線熒光光譜儀
§14．3 普通波長色散X射線熒光光譜儀分辨率的測定及改善
§14．4 譜處理方法
§14．5 X射線熒光光譜儀在化學態(tài)分析中的應(yīng)用
參考文獻
附錄
附錄1 吸收限波長和臨界激發(fā)能量
附錄2 特征X射線波長和能量
附錄3 輻射躍遷幾率
附錄4 K系伴線波長(A)
附錄5 熒光產(chǎn)額和Coster-Kronig躍遷幾率
京公網(wǎng)安備 11000002000088號
