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2020-02-11 14:31 來源：京東作者：京東

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內(nèi)容簡介:　　本書較為系統(tǒng)地闡述了晶體材料中存在的各種對稱性和晶體的取向特性，并以無機晶體材料為背景，介紹了常見的晶體結(jié)構(gòu)特征及晶體結(jié)構(gòu)檢測原理。在完整晶體結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ)上，還分析討論了晶體的缺陷特征，包括點缺陷、位錯的彈性特征、晶界的取向特征等。
　　借助本書，讀者可從材料工程角度對材料晶體學和晶體結(jié)構(gòu)知識有較深入的了解和一定程度的知識更新，為在材料科學與工程領(lǐng)域中進行新材料的研究和新工藝的開發(fā)奠定良好的晶體學基礎(chǔ)。
　　本書可作為材料專業(yè)碩士研究生的專業(yè)基礎(chǔ)教材，或材料專業(yè)本科學生、博士研究生的專業(yè)參考書；也可供從事材料科學與工程研究的科研人員、高等學校教師或相關(guān)企業(yè)工程技術(shù)人員閱讀。

作者簡介:

目錄:1　晶體與晶體學
1.1　晶體學概述
1.2　晶體與晶體材料
1.3　晶體的基本對稱性
1.4　X射線衍射基礎(chǔ)
思考題
2　晶體學點群
2.1　點群
2.2　7種晶體外延推演晶體學點群
2.3　晶體學點群的旋轉(zhuǎn)群推導法
2.4　勞厄群
思考題
本章附錄
3　空間群
3.1　點式空間群
3.2　非點式操作
3.3　各晶系空間群特征概要
3.4　國際表簡介
思考題
本章附錄
4　無機晶體結(jié)構(gòu)分析
4.1　常見的無機晶體結(jié)構(gòu)
4.2　X射線衍射與晶體對稱性
4.3　電子密度函數(shù)
4.4　帕特森函數(shù)
4.5　常見無機晶體結(jié)構(gòu)的測定
4.6　中子衍射結(jié)構(gòu)分析
思考題
本章附錄
5　晶體取向與多晶體織構(gòu)
5.1　取向與織構(gòu)
5.2　取向分布函數(shù)的數(shù)學原理
5.3　織約的表達與定量分析
5.4　金屬塑性變形過程中的取向變化
思考題
6　晶體中的點缺陷
6.1　點缺陷的熱力學分析
6.2　晶體結(jié)構(gòu)中點缺陷的組態(tài)
6.3　受輻照晶體的回復與輻照損傷
思考題
7　晶體位錯的弱性性質(zhì)
7.1　位錯應力場
7.2　位錯受力
7.3　晶體中的位錯結(jié)構(gòu)
8　晶體界面的取向特性
8.1　晶界的空間幾何特點
8.2　晶體界面取向的一般特征
8.3　多晶體界的取向差分布
思考題
參考練習題
術(shù)語索引
參考文獻

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